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  1. 学位論文
  2. 博士論文
  3. 理工学研究科
  4. 博士(工学)
  1. 所属別コンテンツ
  2. 理工学部・理工学研究科
  3. 学位論文
  4. 博士論文
  5. 博士(工学)

アニール技術を用いた高性能シリコン薄膜トランジスタに関する研究

https://doi.org/10.14988/00027521
https://doi.org/10.14988/00027521
43d4b98c-ee33-42bb-9732-feac80b22879
名前 / ファイル ライセンス アクション
zo96.pdf 全文/fulltext (44.4 MB)
Item type 学位論文 / Thesis or Dissertation(1)
公開日 2020-09-09
タイトル
タイトル アニール技術を用いた高性能シリコン薄膜トランジスタに関する研究
言語 ja
タイトル
タイトル アニール ギジュツ オ モチイタ コウセイノウ シリコン ハクマク トランジスタ 二カンスル ケンキュウ
言語 ja-Kana
言語
言語 jpn
キーワード
主題 薄膜トランジスタ, エキシマレーザアニール, 多結晶シリコン
TFT, ELA, poly Si
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_db06
資源タイプ doctoral thesis
ID登録
ID登録 10.14988/00027521
ID登録タイプ JaLC
アクセス権
アクセス権 open access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
著者 野口, 隆

× 野口, 隆

WEKO 28530
CiNii ID 9000004746213

ja 野口, 隆

ja-Kana ノグチ, タカシ

en Noguchi, Takashi

Search repository
著者所属
言語 ja
値 理工学研究科
著者所属(英)
言語 en
値 Graduate School of Science and Engineering
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 ポリSi薄膜トランジスタ(TFT)の高性能化について、理論的、技術的な観点から種々の問題点を導き、特にトラップ密度や粒径の大小がTFTの電気的特性に与える影響を詳細に解析し、イオン注入やその後のアニール技術などによって充分に実証を行ったものである。特にエキシマレーザアニール(ELA)を用いた、全工程が下地に影響を与えない低温プロセスは、LSIの微細化とガラス上素子特性の向上に資するものとして有益な知見と考えられる。
言語 ja
関連サイト
関連タイプ isFormatOf
識別子タイプ URI
関連識別子 https://doors.doshisha.ac.jp/opac/opac_link/bibid/BB10019016/?lang=0
言語 ja
関連名称 掲載刊行物所蔵情報へのリンク / Link to Contents
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
学位名
言語 ja
学位名 博士(工学)
学位名
言語 en
学位名 Doctor of Philosophy in Engineering
学位授与機関
学位授与機関識別子Scheme kakenhi
学位授与機関識別子 34310
言語 ja
学位授与機関名 同志社大学
言語 en
学位授与機関名 Doshisha University
学位授与年月日
学位授与年月日 1992-02-28
学位授与番号
学位授与番号 乙第96号
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Ver.1 2023-07-27 10:56:04.293002
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